如：額定電壓為5000V的絕緣電阻測(cè)試儀，若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn))，其內(nèi)阻為5000V/80μA＝62MΩ 
　　如：試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時(shí)刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。 
　　由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測(cè)試阻值大；容量大，測(cè)試阻值小。 
　　所以，為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s，R60s的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀。 

2. 為什么測(cè)絕緣時(shí)，不但要求測(cè)單純的阻值，而且還要求測(cè)吸收比，極化指數(shù)，有什么意義？ 
　　在絕緣測(cè)試中，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因，一方面，同樣性能的絕緣材料，體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。 另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過程和極化過程。 所以，電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值，并以此數(shù)據(jù)來判定絕緣狀況的優(yōu)劣。 

3． 在高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中，為什么要求儀表接"G"端連線？ 
　　在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí)，被測(cè)試品表面受潮濕，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測(cè)試回路，消除泄漏電流引起的誤差。 

4．在校測(cè)某些型號(hào)絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬用表DCV檔測(cè)L、E兩端電壓，為什么電壓會(huì)跌落很多，而數(shù)字式萬用表則不會(huì)？ 
　　用普通的指針式萬用表直接在絕緣電阻測(cè)試儀"L"、"E"兩端測(cè)量其輸出的額定直流電壓，測(cè)量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多（超出誤差范圍），而用數(shù)字萬用表則不會(huì)。這是因?yàn)橹羔樖饺f用表內(nèi)阻較小，而數(shù)字萬用表內(nèi)阻相對(duì)較大。指針式萬用表內(nèi)阻較小，絕緣電阻測(cè)試儀L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是，用萬用表直接去測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀的輸出電壓是錯(cuò)誤的，應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測(cè)量。 

5．能不能用兆歐表直接測(cè)帶電的被測(cè)試品，結(jié)果有什么影響，為什么？ 
　　為了人身安全和正常測(cè)試，原則上是不允許測(cè)量帶電的被測(cè)試品，若要測(cè)量帶電被測(cè)試品，不會(huì)對(duì)儀表造成損壞（短時(shí)間內(nèi)），但測(cè)試結(jié)果是不準(zhǔn)確的，因?yàn)閹щ姾?，被測(cè)試品便與其它試品連結(jié)在一起，所以得出的結(jié)果不能真實(shí)的反映實(shí)際數(shù)據(jù)，而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。 

6．為什么電子式絕緣電阻測(cè)試儀幾節(jié)電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓? 
　　這是根據(jù)直流變換原理，經(jīng)過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小。（如棍幾節(jié)電池能產(chǎn)生幾萬伏的高壓） 

7．用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量絕緣電阻時(shí)，有哪些因素會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，為什么？ 
　　A） 電池電壓不足。電池電壓欠壓過低，造成電路不能正常工作，所以測(cè)出的讀數(shù)是不準(zhǔn)確的。 
　　B） 測(cè)試線接法不正確。誤將"L"、"G"、"E"三端接線接錯(cuò)，或?qū)?G"、"L"連線"G"、"E"連線接在被測(cè)試品兩端。 
　　C） "G"端連線未接。被測(cè)試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差，造成測(cè)試不準(zhǔn)確，此時(shí)必須接好"G"端連線防止泄漏電流引起誤差。 
　　D） 干擾過大。如果被測(cè)試品受環(huán)境電磁干擾過大，造成儀表讀數(shù)跳動(dòng)。或指針晃動(dòng)。造成讀數(shù)不準(zhǔn)確。 
　　E） 人為讀數(shù)錯(cuò)誤。在用指針式絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量時(shí)，由于人為視角誤差或標(biāo)度尺誤差造成示值不準(zhǔn)確。 
　　F） 儀表誤差。儀表本身誤差過大，需要重新校對(duì)。